DIE FUNDE
TONWARE DER BANDKERAMIK
Im Anschluß an dasjenige, was M. E. Th. de Grooth in
Hienheim I über die Tonware veröffentlicht hat, sol-
len im folgenden drei Einzelaspekte erörtert werden.
Zunächst beschreibt L. van der Pias die kerami-
schen Eigenschaften von 40 Scherben, dann behan-
delt P.J.R. Modderman einige makroskopische
Merkmale, und schließlich berichtet P. van de Velde
über die Entwicklung der verzierten Tonware.
DIE KERAMISCHE CHARAKTERISIERUNG VON UNVERZIERTEN
UND VERZIERTEN LINEARBANDKERAMISCHEN SCHERBEN
von L. van der Pias
Im folgenden wird über eine Untersuchung an 40
Scherben aus einer Grube im Quadrat D-18 (Fundnr.
919, 921, 952 und 964; Taf. 5, 921) berichtet. Vier
Scherben wurden schon früher (Slager u. a. 1978) im
Rahmender Arbeit von C. C. Bakels (1978) beschrie-
ben. Diese schmale Materialbasis ließ so viele Fragen
offen, daß beschlossen wurde, eine größere Anzahl
Scherben zu untersuchen.
Alle Scherben wurden nach der Methode impräg-
niert und geschliffen, wie sie von Jongerius u. a.
(1963) und Miedema u. a. (1974) beschrieben wor-
den ist. Nach qualitativem mikroskopischem Stu-
dium der Dünnschliffe und nach quantitativer Aus-
wertung mittels Punktzählung wurden 10 Scherben
für eine chemische Analyse ausgewählt. Von diesen
Scherben und von einigen anderen wurde eine Rönt-
genphasenanalyse in der Absicht durchgeführt, die
Zusammensetzung der Feldspatfraktion kennenzu-
lernen. Diese Feldspate, die nur einen geringen
Bestandteil der Sandfraktion ausmachen, sind zu
einem nicht unwichtigen Teil der Fraktion kleiner
als 70 pm. Weil gerade Feldspate Auskunft geben
können über die Herkunft des Materials und über
die Frage, ob die untersuchten Scherben aus dersel-
ben keramischen Masse gefertigt worden sind,
wurde eine Methode entwickelt, um die Sand-
fraktion der Scherben von der Matrix zu trennen
(Westrate 1978). Sobald die Sandfraktion isoliert ist,
kann die Feldspatfraktion mittels einer Flotations-
methode konzentriert und mit Röntgenmethoden
untersucht werden. Schließlich wurde eine Reihe
von Mikrofotos hergestellt, um bestimmte Elemente
der mikroskopischen Beschreibung zu illustrieren.
Mikroskopische Beschreibung der Präparate
Das untersuchte keramische Material aus Hienheim
besteht aus unverzierten und verzierten Scherben,
worunter sich sowohl Wand- als auch Randscherben
befinden. Die mikroskopischen Beschreibungen
sind in den Tab. 2 und 3 zusammengefaßt. Neben
diesen Scherben wurden auch drei Scherben mit
umgebendem Bodenmaterial, die mit einer Blech-
dose der Wand einer Profilgrube entnommen wur-
den, mikroskopisch untersucht. Diese letzten Präpa-
rate geben Auskunft über die Beziehung Scherbe —
Boden — bodenbildender Prozeß. Scherben aus
dem Einspülungshorizont des Profils können etwa
zeigen, ob eine Anreicherung von feinem Ton auf der
obenliegenden Seite der Scherbe stattgefunden hat.
Es wurden auch Präparate von Löß aus archäolo-
gisch „verunreinigten“ Gruben und aus Lößprofilen,
die in einem gewissen Abstand von den Grabungen
anstehen, untersucht. In der Arbeit von Slager und
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TONWARE DER BANDKERAMIK
Im Anschluß an dasjenige, was M. E. Th. de Grooth in
Hienheim I über die Tonware veröffentlicht hat, sol-
len im folgenden drei Einzelaspekte erörtert werden.
Zunächst beschreibt L. van der Pias die kerami-
schen Eigenschaften von 40 Scherben, dann behan-
delt P.J.R. Modderman einige makroskopische
Merkmale, und schließlich berichtet P. van de Velde
über die Entwicklung der verzierten Tonware.
DIE KERAMISCHE CHARAKTERISIERUNG VON UNVERZIERTEN
UND VERZIERTEN LINEARBANDKERAMISCHEN SCHERBEN
von L. van der Pias
Im folgenden wird über eine Untersuchung an 40
Scherben aus einer Grube im Quadrat D-18 (Fundnr.
919, 921, 952 und 964; Taf. 5, 921) berichtet. Vier
Scherben wurden schon früher (Slager u. a. 1978) im
Rahmender Arbeit von C. C. Bakels (1978) beschrie-
ben. Diese schmale Materialbasis ließ so viele Fragen
offen, daß beschlossen wurde, eine größere Anzahl
Scherben zu untersuchen.
Alle Scherben wurden nach der Methode impräg-
niert und geschliffen, wie sie von Jongerius u. a.
(1963) und Miedema u. a. (1974) beschrieben wor-
den ist. Nach qualitativem mikroskopischem Stu-
dium der Dünnschliffe und nach quantitativer Aus-
wertung mittels Punktzählung wurden 10 Scherben
für eine chemische Analyse ausgewählt. Von diesen
Scherben und von einigen anderen wurde eine Rönt-
genphasenanalyse in der Absicht durchgeführt, die
Zusammensetzung der Feldspatfraktion kennenzu-
lernen. Diese Feldspate, die nur einen geringen
Bestandteil der Sandfraktion ausmachen, sind zu
einem nicht unwichtigen Teil der Fraktion kleiner
als 70 pm. Weil gerade Feldspate Auskunft geben
können über die Herkunft des Materials und über
die Frage, ob die untersuchten Scherben aus dersel-
ben keramischen Masse gefertigt worden sind,
wurde eine Methode entwickelt, um die Sand-
fraktion der Scherben von der Matrix zu trennen
(Westrate 1978). Sobald die Sandfraktion isoliert ist,
kann die Feldspatfraktion mittels einer Flotations-
methode konzentriert und mit Röntgenmethoden
untersucht werden. Schließlich wurde eine Reihe
von Mikrofotos hergestellt, um bestimmte Elemente
der mikroskopischen Beschreibung zu illustrieren.
Mikroskopische Beschreibung der Präparate
Das untersuchte keramische Material aus Hienheim
besteht aus unverzierten und verzierten Scherben,
worunter sich sowohl Wand- als auch Randscherben
befinden. Die mikroskopischen Beschreibungen
sind in den Tab. 2 und 3 zusammengefaßt. Neben
diesen Scherben wurden auch drei Scherben mit
umgebendem Bodenmaterial, die mit einer Blech-
dose der Wand einer Profilgrube entnommen wur-
den, mikroskopisch untersucht. Diese letzten Präpa-
rate geben Auskunft über die Beziehung Scherbe —
Boden — bodenbildender Prozeß. Scherben aus
dem Einspülungshorizont des Profils können etwa
zeigen, ob eine Anreicherung von feinem Ton auf der
obenliegenden Seite der Scherbe stattgefunden hat.
Es wurden auch Präparate von Löß aus archäolo-
gisch „verunreinigten“ Gruben und aus Lößprofilen,
die in einem gewissen Abstand von den Grabungen
anstehen, untersucht. In der Arbeit von Slager und
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