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DOI article:Blecher, C.: Theorie und Praxis autotypischer Aufnahmen mittels Diagonalrasters
DOI Page / Citation link:https://doi.org/10.11588/diglit.41967#0184
Rutotypische Rufnahmen mittels Diagonalrasters.
169
Grund der Schattengeseße eine solche Pücke reißen? ITlit Sicher-
heit läßt sich sagen, daß es einerseits Diffraktionserscheinungen,
anderseits aber unzweifelhaft Ginflüsse photochemischer Ratur,
also oon der lichtempfindlichen Schicht herrührend, sein werden.
Wie groß, dabei der Anteil beider Grscheinungcn an der Punkt-
bildung ist, läßt sich ebensowenig sagen, wie diese selbst nach
irgend welchen theoretischen Grundlagen berechnet werden
können.
Um nun durch diese Ginflüsse — mit denen wir unbedingt
zu rechnen haben — nicht der Vorteile des zahlenmäßigen Zu-
sammenhanges zwischen den oerschicdenen, im Vorhergehenden
häufig erwähnten Aufnahmegrößen (ein Zusammenhang, der in
der Gleichung für den Rasferabstand D niedergelegt ist) oer-
lustig zu gehen, müssen diese Ginflüsse sowohl für oerschiedene
lichfempfindliche Schichten, als auch für oerschieden feine Raster
(da insbesondere mit der Zahl der Pinien wechselnde Diffraktions-
abweichungen zu erwarten sind) empirisch ermittelt werden.
Bei diesen empirischen Grmittelungen oerfuhr Verfasser so, daß
der Rasterabstand (bei Aufnahme sowohl auf nasser Platte, als
auf Gmulsion und für die oerschiedensten anderen Verhältnisse)
zunächst aus obiger Gleichung, wenn in diese der maximale
Wert für P in den hellsten Pichfern (den ,,5chluß“partieen) ein-
geseßt ist, errechnet wurde und dann die Aufnahme bei um so
oiel oergräßertem Rasterabstand oersucht wurde, als gleich-
zeitig die denkbar kürzeste Belichtungszeit — das heißt die-
jenige, welche erforderlich wäre, um das Original ohne Raster
in Halbtonmanier, also unzerlegt, richtig ausexponiert zu erhalten
— behufs Grreichung der geforderten maximalen Punktaus-
dehnung zuläßt. Aus den ermittelten Rasterdistanzen wurde dann
zurückgerechnet, welch höherer Wert für P in die Gleichung zur
Berechnung oon D einzuseßen ist, damit danach der maximale
Wert oon Punkten mit richtigem Schluß resultiert.
Die auf Grund dieser Grmittelungen ausgerechneten Werte
für P (und die oon diesem abhängigen Werte der Hilfsgröße f)
sind in nachstehender Tabelle für die Raster oerschiedener
Pinienzahl und oerschiedener Strukturoerhältnisse zusammen-
gestellt; die Zahlenwerte entsprechen ITlillimctern.
Unsere oorhergehenden Grörterungen liefen alle darauf
hinaus, zunächst den für die Praxis unerläßlichen Zusammen-
hang zu schaffen zwischen: der Reduktion, der zu wählenden
Blende, dem Rasterabstand, der lichtempfindlichen Schicht und
der Gxpositionszeit. Diesen gelang es, durch Aufstellung der
Gleichung zur Berechnung des Rasterabstandes D herzustellen,
wenn das Reduktionsmaß (im Faktor a mitenthalten) bekannt
ist und eine ganz bestimmte Blende (B) gewählt, sowie eine
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Grund der Schattengeseße eine solche Pücke reißen? ITlit Sicher-
heit läßt sich sagen, daß es einerseits Diffraktionserscheinungen,
anderseits aber unzweifelhaft Ginflüsse photochemischer Ratur,
also oon der lichtempfindlichen Schicht herrührend, sein werden.
Wie groß, dabei der Anteil beider Grscheinungcn an der Punkt-
bildung ist, läßt sich ebensowenig sagen, wie diese selbst nach
irgend welchen theoretischen Grundlagen berechnet werden
können.
Um nun durch diese Ginflüsse — mit denen wir unbedingt
zu rechnen haben — nicht der Vorteile des zahlenmäßigen Zu-
sammenhanges zwischen den oerschicdenen, im Vorhergehenden
häufig erwähnten Aufnahmegrößen (ein Zusammenhang, der in
der Gleichung für den Rasferabstand D niedergelegt ist) oer-
lustig zu gehen, müssen diese Ginflüsse sowohl für oerschiedene
lichfempfindliche Schichten, als auch für oerschieden feine Raster
(da insbesondere mit der Zahl der Pinien wechselnde Diffraktions-
abweichungen zu erwarten sind) empirisch ermittelt werden.
Bei diesen empirischen Grmittelungen oerfuhr Verfasser so, daß
der Rasterabstand (bei Aufnahme sowohl auf nasser Platte, als
auf Gmulsion und für die oerschiedensten anderen Verhältnisse)
zunächst aus obiger Gleichung, wenn in diese der maximale
Wert für P in den hellsten Pichfern (den ,,5chluß“partieen) ein-
geseßt ist, errechnet wurde und dann die Aufnahme bei um so
oiel oergräßertem Rasterabstand oersucht wurde, als gleich-
zeitig die denkbar kürzeste Belichtungszeit — das heißt die-
jenige, welche erforderlich wäre, um das Original ohne Raster
in Halbtonmanier, also unzerlegt, richtig ausexponiert zu erhalten
— behufs Grreichung der geforderten maximalen Punktaus-
dehnung zuläßt. Aus den ermittelten Rasterdistanzen wurde dann
zurückgerechnet, welch höherer Wert für P in die Gleichung zur
Berechnung oon D einzuseßen ist, damit danach der maximale
Wert oon Punkten mit richtigem Schluß resultiert.
Die auf Grund dieser Grmittelungen ausgerechneten Werte
für P (und die oon diesem abhängigen Werte der Hilfsgröße f)
sind in nachstehender Tabelle für die Raster oerschiedener
Pinienzahl und oerschiedener Strukturoerhältnisse zusammen-
gestellt; die Zahlenwerte entsprechen ITlillimctern.
Unsere oorhergehenden Grörterungen liefen alle darauf
hinaus, zunächst den für die Praxis unerläßlichen Zusammen-
hang zu schaffen zwischen: der Reduktion, der zu wählenden
Blende, dem Rasterabstand, der lichtempfindlichen Schicht und
der Gxpositionszeit. Diesen gelang es, durch Aufstellung der
Gleichung zur Berechnung des Rasterabstandes D herzustellen,
wenn das Reduktionsmaß (im Faktor a mitenthalten) bekannt
ist und eine ganz bestimmte Blende (B) gewählt, sowie eine